PAT 零部件平均测试
随着新能源和无人驾驶汽车快速发展，使得车规级芯片发挥着越来越重要的作用。相对于消费类电子芯片，车规芯片的质量要求更加苛刻。
AEC-Q001规范中提出了参数零件平均测试（Parametric Part Average Testing, PPAT）方法。PAT 是用来检测外缘（Outliers）半导体组件异常特性的统计方法，用以将异常组件从所有产品中剔除。
上扬软件PAT（Part Average Testing）零部件平均测试，不仅包括常见的静态SPAT（Static PAT）、动态DPAT（Dynamic PAT，还包括先进的区域聚集性PAT（Geographic PAT）剔除功能，使得PAT应用更加多样、科学。
区域聚集性PAT是为所有在晶圆上的裸晶加入邻近性权重，因此一些被不良裸晶包围或邻近的良好裸晶，可能会被移除。其核心思想是通过良品坐标周围的不良品数量，或者通过不良品...
区域聚集性PAT是为所有在晶圆上的裸晶加入邻近性权重，因此一些被不良裸晶包围或邻近的良好裸晶，可能会被移除。其核心思想是通过良品坐标周围的不良品数量，或者通过不良品的聚集性找出有风险的芯片。分别对应正向、反向两种搜索剔除算法。
动态PAT是根据当前Wafer测试参数的测试值计算当前WaferPAT参数的统计值（如中位数、均值、Sigma），再根据上下限的Sigma设置倍数得出上下PAT管控线，最后根据每个die的实测...
动态PAT是根据当前Wafer测试参数的测试值计算当前Wafer PAT参数的统计值（如中位数、均值、Sigma），再根据上下限的Sigma设置倍数得出上下PAT管控线，最后根据每个die的实测值与管控线得出die的Pass/Fail。
静态PAT根据测试历史数据计算产品PAT参数的统计值（如中位数、均值、Sigma），再根据上下限的Sigma设置倍数计算出上下PAT管控线，最后根据每个die的实测值与管控线得出die的Pass/Fail。
静态PAT根据测试历史数据计算产品PAT参数的统计值（如中位数、均值、Sigma），再根据上下限的Sigma设置倍数计算出上下PAT管控线，最后根据每个die的实测值与管控线得出die的Pass/Fail。
FA PAT支持多种测试文件格式，采用多线程技术，自动监听测试文件，输出PAT结果文件，也可直接将结果数据存储在数据库或推送给其它系统。
FA PAT与机台软件运行在同一局域网内，可直接访问文件服务器，自动对机台软件产生的测试文件进行PAT计算，从而产生结果文件，存储在文件服务器上。
+86 021 5080 4093
contact@fa-software.com
上海市浦东新区世纪大道1198号世纪汇一座1701室
